為了使用SRM 1729 錫合金 和基于合金屑溶解的測(cè)試方法，建議使用機(jī)器工具將SRM的芯片從原始表面或從當(dāng)前表面移除至少2mm，條件是總深度不超過(guò)10 mm。根據(jù)需要從磁盤(pán)上取出，不要為以后使用大量的芯片。用戶(hù)經(jīng)驗(yàn)表明，0.25g的取樣量足以滿(mǎn)足單個(gè)試件的要求。

SRM 1729 錫合金 不被認(rèn)證用于測(cè)量表面最外層10μm左右的測(cè)量技術(shù)。此語(yǔ)句指的是磁盤(pán)的當(dāng)前表面，而不是購(gòu)買(mǎi)時(shí)的原始表面。特別是用能量色散X射線(xiàn)光譜法(SEM-EDS)或X射線(xiàn)熒光光譜法(SEM-EDS)和測(cè)量Pb M-鋸齒發(fā)射光譜線(xiàn)進(jìn)行測(cè)量，其結(jié)果并不代表SRM l 729的體積組分。在NIST和合作實(shí)驗(yàn)室中，用變X射線(xiàn)起飛角的SEM-EDS或XRF進(jìn)行了測(cè)量，結(jié)果表明，SEM-EDS結(jié)果反映了合金表面Pb和Zn的富集情況。已知Pb和Zn向Sn合金表面擴(kuò)散，直到達(dá)到相對(duì)于體積質(zhì)量分?jǐn)?shù)[3，4]富集Pb和Zn的平衡為止。

錫合金（97Sn - 3Pb）（盤(pán)形）

發(fā)行單位：圓盤(pán)
單位描述：一個(gè)單元由一個(gè)直徑約 39 毫米、厚 15 毫米的圓盤(pán)組成，經(jīng)過(guò)認(rèn)證，其原始測(cè)試表面深度為 10 毫米。

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