SRM 1775耐火合金MP-35-N標(biāo)準品(美國NIST) 為圓盤形式，直徑約 35 毫米（1.375 英寸），厚 12.7 毫米（0.5 英寸），用于光發(fā)射和 X 射線光譜分析方法。

認證的質(zhì)量分數(shù)值：

認證的質(zhì)量分數(shù)值在表 1 [1] 中提供。 NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi) [2]。認證值是根據(jù) NIST 和合作實驗室進行的分析結(jié)果對真實值的當(dāng)前最佳估計。

參考質(zhì)量分數(shù)值：

參考質(zhì)量分數(shù)值在表 2 [1] 中提供。參考值是非認證值，是對真實值的當(dāng)前最佳估計；然而，這些值不符合 NIST 的認證標(biāo)準，并且提供了相關(guān)的不確定性，這些不確定性可能僅反映測量精度，可能不包括所有不確定性來源，或者可能反映多種分析方法之間缺乏足夠的一致性 [2]。

信息值：

表 3 中提供了鈮、氮、硅和鎢的信息值。由于沒有足夠的信息來進行適當(dāng)?shù)慕y(tǒng)計評估，因此沒有報告這些值的不確定性。

認證到期：

SRM 1775耐火合金MP-35-N標(biāo)準品(美國NIST)  的認證在規(guī)定的測量不確定度內(nèi)無限期有效，前提是按照本證書中給出的說明處理和存儲 SRM（參見“使用說明"）。因此，不需要定期重新校準或重新認證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認證無效。

使用說明

磁盤的未標(biāo)記表面用于測量。表面的整個區(qū)域都經(jīng)過認證，可以在表面的任何點進行測量。該材料被認為在整個圓盤厚度上都是均勻的。每個包裝好的圓盤都是通過用 120 粒度的氧化鋯砂紙完成未壓印的表面而制備的。敦促用戶在重修磁盤或進行額外的拋光時要小心，因為這些過程可能會污染磁盤的表面。